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    • 掃描電鏡高溫力學原位系統通過MEMS芯片在原位樣品臺內構建力、熱復合多場自動控制及反 饋測量系統,結合EDS、EBSD等多種不同模式,實現從納米層面實 時、動態監測樣品在真空環境下隨溫度、施加力變化產生的微觀結構 演化、相變、元素價態、微觀應力以及表/界面處的結構和成分演化等 關鍵信息。

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      產品價格:面議
      廠商性質:生產廠家
      更新日期:2023-12-27
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